| JENAMA & MODEL | XPS XSAM HS KRATOS ANALYTICAL | ||||||
| LOKASI ALAT: | Blok C, Makmal Analisis Permukaan (Map), Bangunan Sains Nuklear, PPFG, FST. | ||||||
| PENGENALAN ALAT: |
Data spektra yang diperolehi boleh diperincikan kepada bentuk peratusan berat unsur, tenaga ikatan binding energy (BE) dan tenaga kinetik kinetic energy (KE) . |
||||||
| KEGUNAAN ALAT: | Pencirian bahan secara kuantitatif dan kualitatif | ||||||
| KEADAAN SAMPEL: | Pepejal (Solid dan Serbuk) | ||||||
| JUMLAH MINIMA SAMPEL DIPERLUKAN: |
|
||||||
| KEPERLUAN KHUSUS SAMPEL: | – | ||||||
| TEMPOH ANALISIS: | 1 jam per sampel | ||||||
| KEUPAYAAN ANALISIS DILAKUKAN SEHARI: | 2 sampel sehari | ||||||
| KOS ANALISIS: |
|
||||||
| WAKTU OPERASI: |
Isnin – Jumaat (Temujanji dengan operator) |
||||||
| PENYELARAS ALAT: | 
Dr. Norinsan Kamil Othman Email: insan@ukm.edu.my |
||||||
| KETUA PEGAWAI SAINS: | 
Encik Rusli bin Yahya Email: rby@ukm.edu.my |
||||||
| OPERATOR ALAT: | 
Tuan Haji Md Said bin Ab Ghani Email: mdsaid@ukm.edu.my
Encik Azlan Shah bin Mustafa Email: nalza@ukm.edu.my |
||||||
| No. Tel. | samb. 3358/ 0132607688 |
Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS XSAM HS) ini berupaya menganalisis unsur sehingga 10 lapisan permukaan terluar sesuatu sampel dan beroperasi secara manual. Menggunakan perisian UNIX, data tidak terdedah kepada serangan virus dan worm.