SPEKTROMETER FOTOELEKTRON SINAR-X (XPS)
Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS XSAM HS) ini berupaya menganalisis unsur sehingga 10 lapisan permukaan terluar sesuatu sampel dan beroperasi secara manual. Menggunakan perisian UNIX, data tidak terdedah kepada serangan virus dan worm.
Data spektra yang diperolehi boleh diperincikan kepada bentuk peratusan berat unsur, tenaga ikatan binding energy (BE) dan tenaga kinetik kinetic energy (KE).